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面铜测厚仪 - CMI 165

详细信息
CMI165是一款测量精确简易与质量可靠的手持式镀层测厚仪。它可测试高/低温的PCB铜箔,专为PCB铜箔制造商设计。

日立仪器公司对于金属镀层测厚的解决方案、相关配件及耗材现都可在www.CoatingMeasurementStore.com - 上快速获取全球范围的优质售前售后服务与技术支持。
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