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德国斯派克
XEPOS
德国斯派克偏振型 XRF
扩展偏振光学系统使用50W低能量的X射线管作为辐射源,用于Na-U元素的同时分析。从X射线管中发出的原始X射线通过高通量偏振光学系统进行转换,得到的完全偏振且部分单色的X射线可以高灵敏地测定各种元素。这种先进的偏振分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。
A/B自动交换高压测试系统是针对变压器市场需求,以系统理念设计出安全、标准且快速的自动测试系统,符合工厂生产效率,并考量其高压测试的安全性而设计出有安全防护盖的A/B自动交换高压测试系统。 将变压器放置于任一边测试槽上,盖上防护盖即开始自动测试(此称为A组),测试过程中另一组(此称为B组)亦可同时放置待测变压器,且盖上防护盖后将处于stand by状态,待A组PASS后会立即自动测试B组上的变压器,此时掀开A组防护盖,取出变压器,放置下一个待测变压器于测试槽上,盖上防护盖后将处于 stand by状态,待B组测试PASS后会立即再测试A组,如此反复交互测试,测试过程中任意开启防护盖或测试Fail会立即停止测试。
麦拉膜,样品杯等
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广泛地应用于ROHS、石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等;
台式XRF镀层测厚仪 X-Strata920
详细信息
利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
X-Strata920 – 性价比高,无损可靠
一款操作简单的质量控制分析仪,满足镀层厚度测量和材料分析。
新型号设计
快速分析(几秒)1-4层镀层厚度
多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台,满足所有样品类型
开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等
符合ISO3487和ASTM B568检测方法
X-Strata920 - 三种配置满足您的需要:
固定样品台
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品,如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
经济、实用
平面样品台设计,适合高度不超过1.3"(33mm)的样品分析
加深样品台
高度每英寸(25.4mm)可调,架构式样品舱可容纳最大高度6.3"(160mm)的样品
可以选4个样品盘中任一个来盛放不同高度的样品
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品,如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
程控样品台
用于自动化测量
方便根据测试位置放置样品,并精准定位测量点
开槽式样品舱允许检测大型平板样品,如印制线路板
样品台尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (宽)
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