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台式XRF镀层测厚仪 X-Strata920

详细信息
利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。

X-Strata920 – 性价比高,无损可靠 
一款操作简单的质量控制分析仪,满足镀层厚度测量和材料分析。
新型号设计
快速分析(几秒)1-4层镀层厚度
多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台,满足所有样品类型
开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等
符合ISO3487和ASTM B568检测方法

X-Strata920 - 三种配置满足您的需要:

固定样品台
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品,如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
经济、实用
平面样品台设计,适合高度不超过1.3"(33mm)的样品分析
 

加深样品台
高度每英寸(25.4mm)可调,架构式样品舱可容纳最大高度6.3"(160mm)的样品
可以选4个样品盘中任一个来盛放不同高度的样品
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品,如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
 
程控样品台
用于自动化测量 
方便根据测试位置放置样品,并精准定位测量点
开槽式样品舱允许检测大型平板样品,如印制线路板
样品台尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (宽) 

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