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台式XRF镀层测厚仪 X-Strata980

详细信息
利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层
厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层

厚度的测量。
X-Strata980 – 灵活、多元素、无损的材料分析
一款全面强大的X射线荧光分析仪,能够检测各种大小的样品
快速、精确分析固体、液体和粉末
程控台的大样品舱方便样品摆放和测量(可选)
集成电脑节省了台式仪器的空间
高分辨率检测器使检测下限降到最低
应用广泛,包括光电池、RoHS有害元素筛选和贵金属分析