德国斯派克
XEPOS
德国斯派克偏振型 XRF
扩展偏振光学系统使用50W低能量的X射线管作为辐射源,用于Na-U元素的同时分析。从X射线管中发出的原始X射线通过高通量偏振光学系统进行转换,得到的完全偏振且部分单色的X射线可以高灵敏地测定各种元素。这种先进的偏振分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。
麦拉膜,样品杯等
广泛地应用于ROHS、石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等;
高,高透明度,凸起刻度。
刻度基线标识了环形标记,六边形底座,标识刻度。
符合DIN 12681 和 ISO 6706允许的B级允差。
超过60 °C 温度下会引起精确度的改变。
体积 允差 分度 高度 直径 最小订货量 货号
ml ± ml ml mm mm
10 0.20 0.20 140 16 12 64691
25 0.50 0.50 169 21 12 64791
50 1.00 1.00 199 28 12 64891
100 1.00 1.00 260 34 12 64991
250 2.00 2.00 315 47 6 65091
500 5.00 5.00 350 61 6 65191
1000 10.00 10.00 415 76 6 65291
2000 20.00 20.00 482 97 3 65391