德国斯派克
XEPOS
德国斯派克偏振型 XRF
扩展偏振光学系统使用50W低能量的X射线管作为辐射源,用于Na-U元素的同时分析。从X射线管中发出的原始X射线通过高通量偏振光学系统进行转换,得到的完全偏振且部分单色的X射线可以高灵敏地测定各种元素。这种先进的偏振分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。
麦拉膜,样品杯等
广泛地应用于ROHS、石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等;
高,玻璃状透明,凸起刻度。
刻度基线标识了环形标记,六边形底座,标识刻度。
标准值偏差符合DIN 12681 和 ISO 6706允许的A级允差。
高温121°C(高压)下不会造成永久性的超出允差限度。
体积 允差 分度 高度 直径 最小订货量 货号
ml ± ml ml mm mm
10 0.10 0.20 145 15 12 64695
25 0.25 0.50 170 22 12 64795
50 0.50 1.00 200 27 12 64895
100 0.50 1.00 250 33 12 64995
250 1.00 2.00 315 44 6 65095
500 2.50 5.00 360 58 6 65195
1000 5.00 10.00 440 69 6 65295
2000 10.00 20.00 482 97 3 65395